English Français Português
Home — Introduction Calibration certificate Calibration interval Maximum permissible error / Tolerance Metrology terms More information
Definition of maximum permissible error for a monitoring & testing equipment
The maximum permissible error will be, at best, the accuracy specified by the manufacturer
of the equipment. Of course, this specification should be confirmed by a calibration and
before the end of warranty period. After that, if the equipment does not have the accuracy
specified by the manufacturer, it is no longer his problem but yours.
It is perfectly acceptable to consider a maximum permissible error higher than specified,
taking in accounts 2 economical factors:
- Calibrations costs: higher is the maximum permissible error, higher can be the calibrations
interval. Measuring equipment drift with time and therefore its accuracy also degrades. This
drift is the major factor when defining calibration interval. Now, if we increase the maximum
permissible error of the equipment, its permissible drift is also higher and consequently
calibration interval can be larger. The advantage is of course reduction of calibration costs.
The increase of maximum permissible error can also allow cheaper calibrations, with less accurate
references, possibly making internal calibrations instead of external ones. - Process Tolerances: any measurement made with an equipment will have to consider its accuracy
(=maximum permissible error). For instance, consider that a caliper is used to measure screws
with a tolerance of 10+/-1mm and the caliper has a maximum permissible error of 0,5mm. This means
that any screw with a width higher than 10,5 mm or lower than 9,5 mm will be rejected.
Consequently there is a reduction of the process tolerance. In our example if the probability
of width of screws between 9 and 11 mm was uniform, half of it would be rejected.
However, when the equipment is electrical, like a multimeter, osciloscope or spectrum analyzer, it may
be easier to simply follow the maximum permissible error specified in its service manual, because most of the time
the calibration lab will have an automated calibration software that will print, in the calibration
certificate, the comparison of obtained errors (+uncertainty) with the maximum permissible error
specified by the manufacturer, which means less work for you.
In conclusion, the definition of the maximum permissible error will be a compromise between:
- cost of equipment calibration;
- cost of its accuracy reduction, meaning, in a production environment,
the cost of rejecting materials or products that are actually good; - for electrical equipment, if calibration certificate includes comparison with maximum permissible error.
For more information: More information
Copyright © 2010-2013 HUGO MORAIS. All Rights Reserved.
Outros sites que possam interessar:
Explicacoes de matemática para o ensino superior|
Explicacoes de matemática no Estoril|
Explicacoes de matemática em Cascais — secundário|
Explicações de matemática para o IB|
Explicacoes de matemática para o IGCSE|
Explicacoes de física para o ensino superior|
Explicacoes de física e química em Cascais — secundário|
Explicações de física para o IB|
Explicacoes de física para o IGCSE|
www.aptinov.com
Точность лазерного трекера и факторы, которые на нее влияют.
Погрешность измерений лазерного трекера (Leica AT930/960)
Погрешность измерения координат точки в пространстве «Uxyz» определяется как разность между номинальными и измеренными координатами этой точки. Погрешность измерений указана как функция, зависящая от расстояния между трекером и измеряемой точкой.
| Диапазон | Погрешность |
| Uxyz (MPE) | ± 10 мкм + 5 мкм/м |
Эта погрешность определена, как «Максимально Допустимая Ошибка» (Maximum Permissible Error, MPE) с использованием отражателя с красным кольцом (RRR1.5″) и профилем измерения «Стандартный». Максимально допустимая ошибка (MPE) это и есть точность лазерного трекера.
Информация
Подробные технические характеристики, точности, сравнение модельного ряда лазерных трекеров Leica, можно посмотреть в нашем каталоге по ссылке.
Беспроводной щуп T-Probe
Погрешность измерения координат точки в пространстве «Uxyz» определяется как разность между номинальными и измеренными координатами этой точки. Погрешность измерений указана как функция, зависящая от расстояния между трекером и измеряемой точкой.
| Диапазон | Погрешность |
| Uxyz (MPE) | ± 20 мкм* |
* Погрешность T-Probe необходимо добавить к погрешности трекера для расчета полной погрешности измерений Uxyz (Согласно GUM – Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement)
Как указано в таблице выше, погрешность ±20 мкм необходимо добавить к погрешности трекера для расчета полной погрешности измерений «Uxyz»
Пример расчета погрешности измерений с использованием T-Probe на расстоянии 5 метров:
Uxyz = ±10 мкм + 5 мкм * 5 м + 20 мкм = 55 мкм
Эта погрешность заявлена при использовании T-Probe (со 110 мм щупом в креплении 1/2) и профилем измерения «Стандартный» в стабильных условиях окружающей среды.
Информация
Подробные технические характеристики, точности, сравнение модельного ряда щупов для лазерных трекеров Leica, можно посмотреть в нашем каталоге по ссылке.
Максимально допустимая ошибка (MPE) и типовые значения
Погрешность измерений для лазерных трекеров Leica АТ930/АТ960 и T-Probe определена, как «Максимально Допустимая Ошибка» (Maximum Permissible Error, MPE). В дополнение к значениям максимально допустимая ошибки «MPE», для описания точности Leica также использует такое понятие как «Типовые значения» («Typical Values»).
Исторически, для лазерных трекеров Leica использовалось значение ±2σ, которое гарантирует 95 % доверительный интервал. Кривая «нормального распределения» показывает значения, которые соответствуют значению ±2σ. Включены все данные заштрихованной области (> 95 %). Данные вне этого диапазона не рассматриваются (> 5 %). Если рассмотреть этот вопрос с точки зрения MPE, 100 % результатов должны быть в пределах заявленной спецификации.
«Типовые значения» («Typical Values») составляют половину значений максимально допустимой ошибки (MPE).
Значения U95 и среднеквадратическая ошибка (RMS)
C каждым произведенным измерением, пользователь получает некоторую статистическую информацию, с помощью которой можно сделать выводы о качестве измерений. В Tracker Pilot используется значение U95. В приложениях стороннего производителя это может быть среднеквадратическая ошибка (RMS). Чем ниже значение U95/RMS, тем выше качество измерений.
-
- Среднеквадратическая ошибка (RMS)
Среднеквадратическая ошибка (RMS) ряда величин равна корню квадратному из средней арифметической суммы квадратов величин.
Пусть дан ряд состоящий из n величин {x1, x2, …, xn}
Большая среднеквадратическая ошибка не означает, что измерение выполнено не качественно. Она может быть вызвана нестабильной окружающей обстановкой.
-
- Значение U95
U95= 2σ расширенной погрешности. 5 % результатов измерений могут находиться вне допуска.
Факторы влияющие на точность измерений
Точность измерений лазерным трекером зависит от отдельных точностей следующих компонентов:
- Угловые измерения
- Измерения расстояний
- Отражатели/T-Probe (B-Probe)
Это объективные факторы, которые влияют на точность измерений. Но в реальности существует несколько больше субъективных факторов, которые вкупе с вышеперечисленными еще сильнее влияют на точность:
- Температура
- Турбулентность воздуха
- Окружающая обстановка (стабильность поверхности установки, вибрации и т.д.)
- Точность и надежность аксессуаров
- Методики и процедуры измерений
Пирамида факторов влияющих на точность измерений
Пирамида факторов влияющих на точность описывает все факторы, которые могут вызывать погрешность измерений. Геометрия в виде пирамиды иллюстрирует степень влияния фактора на общий результат. Как вы видите, самую большую роль играют факторы окружающей среды.
Условия окружающей среды
- Стабильность поверхности установки
- Стабильность отражателей
- Вибрации
- Температурная стабильность
- Температурный градиент
- Рабочий диапазон
Аксессуары
- Отражатели (центрировка, отклонение формы, чистота)
- Штатив
- Метеостанция
- Держатели отражателей
Калибровки и поверки трекера
- Последнее проведение поверки
- Последнее проведение калибровки
- Состояние поверок/калибровок
Методика измерений
- Выравнивание (базирование)
- Установки (профиль измерений, контроль RMS, количество точек на элемент)
- Опыт пользователя
- Методы анализа и вычислений
Информация
Подробные технические характеристики, точности, сравнение модельного ряда лазерных трекеров Leica, можно посмотреть в нашем каталоге по ссылке.
Click here follow the steps to fix Maximum Permissible Error In Measurement and related errors.
|
|
|
|
To Fix (Maximum Permissible Error In Measurement) error you need to |
|
|
Step 1: |
|
|---|---|
| Download (Maximum Permissible Error In Measurement) Repair Tool |
|
|
Step 2: |
|
| Click the «Scan» button | |
|
Step 3: |
|
| Click ‘Fix All‘ and you’re done! | |
|
Compatibility:
Limitations: |
Maximum Permissible Error In Measurement Error Codes are caused in one way or another by misconfigured system files
in your windows operating system.
If you have Maximum Permissible Error In Measurement errors then we strongly recommend that you
Download (Maximum Permissible Error In Measurement) Repair Tool.
This article contains information that shows you how to fix
Maximum Permissible Error In Measurement
both
(manually) and (automatically) , In addition, this article will help you troubleshoot some common error messages related to Maximum Permissible Error In Measurement error code that you may receive.
Note:
This article was updated on 2023-02-03 and previously published under WIKI_Q210794
Contents
- 1. What is Maximum Permissible Error In Measurement error?
- 2. What causes Maximum Permissible Error In Measurement error?
- 3. How to easily fix Maximum Permissible Error In Measurement errors
What is Maximum Permissible Error In Measurement error?
The Maximum Permissible Error In Measurement error is the Hexadecimal format of the error caused. This is common error code format used by windows and other windows compatible software and driver vendors.
This code is used by the vendor to identify the error caused. This Maximum Permissible Error In Measurement error code has a numeric error number and a technical description. In some cases the error may have more parameters in Maximum Permissible Error In Measurement format .This additional hexadecimal code are the address of the memory locations where the instruction(s) was loaded at the time of the error.
What causes Maximum Permissible Error In Measurement error?
The Maximum Permissible Error In Measurement error may be caused by windows system files damage. The corrupted system files entries can be a real threat to the well being of your computer.
There can be many events which may have resulted in the system files errors. An incomplete installation, an incomplete uninstall, improper deletion of applications or hardware. It can also be caused if your computer is recovered from a virus or adware/spyware
attack or by an improper shutdown of the computer. All the above actives
may result in the deletion or corruption of the entries in the windows
system files. This corrupted system file will lead to the missing and wrongly
linked information and files needed for the proper working of the
application.
How to easily fix Maximum Permissible Error In Measurement error?
There are two (2) ways to fix Maximum Permissible Error In Measurement Error:
Advanced Computer User Solution (manual update):
1) Start your computer and log on as an administrator.
2) Click the Start button then select All Programs, Accessories, System Tools, and then click System Restore.
3) In the new window, select «Restore my computer to an earlier time» option and then click Next.
4) Select the most recent system restore point from the «On this list, click a restore point» list, and then click Next.
5) Click Next on the confirmation window.
6) Restarts the computer when the restoration is finished.
Novice Computer User Solution (completely automated):
1) Download (Maximum Permissible Error In Measurement) repair utility.
2) Install program and click Scan button.
3) Click the Fix Errors button when scan is completed.
4) Restart your computer.
How does it work?
This tool will scan and diagnose, then repairs, your PC with patent
pending technology that fix your windows operating system registry
structure.
basic features: (repairs system freezing and rebooting issues , start-up customization , browser helper object management , program removal management , live updates , windows structure repair.)
- С русского на:
- Английский
- С английского на:
- Все языки
- Испанский
- Русский
-
1
maximum permissible error
MPE, maximum permissible error
максимально допустимая ошибка [погрешность]
English-Russian dictionary of planing, cross-planing and slotting machines > maximum permissible error
-
2
maximum permissible error
- максимальная допустимая ошибка
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > maximum permissible error
-
3
maximum permissible error
Универсальный англо-русский словарь > maximum permissible error
-
4
maximum permissible error
допускаемая погрешность; предел допускаемой погрешности
English-Russian dictionary of mechanical engineering and automation > maximum permissible error
-
5
maximum permissible error
Англо-русский словарь по экономике и финансам > maximum permissible error
-
6
maximum permissible error
English-Russian dictionary of computer science > maximum permissible error
-
7
maximum permissible error
The English-Russian dictionary on reliability and quality control > maximum permissible error
-
8
maximum permissible error of a measuring instrument
- предел допускаемой погрешности измерительного устройства
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > maximum permissible error of a measuring instrument
-
9
error
[ˈerə]
absolute error абсолютная ошибка accidental error случайная ошибка accounting error ошибка бухгалтерского учета accuracy error постоянная ошибка addressing error вчт. ошибка адресации alignment error погрешность юстировки altering error нерегулярная ошибка analytic truncation error ошибка аналитического усечения average error средняя ошибка bad call format error вчт. ошибка из-за неправильного вызова bad command error вчт. ошибка из-за неправильной команды balancing error сбалансированная ошибка error ошибка, заблуждение; to make an error совершить ошибку, ошибиться; in error по ошибке, ошибочно; to be in error заблуждаться bias error постоянная ошибка biased error постоянная ошибка biased error систематическая ошибка burst error вчт. пакет ошибок calculating error погрешность расчета call error вчт. ошибка вызова chance error случайная ошибка checksum error вчт. ошибка в контрольной сумме code error вчт. ошибка в коде coincidence error вчт. ошибка совпадения common error вчт. обычная ошибка compensating error вчт. компенсирующая ошибка compensating error компенсирующая ошибка compile-time error вчт. ошибка при трансляции completeness error вчт. ошибка завершения configuration error вчт. ошибка компоновки configuration error вчт. ошибка конфигурации connection error вчт. ошибка монтажа consistency error вчт. ошибка из-за несовместимости constant error постоянная ошибка constant error систематическая ошибка constructional error вчт. ошибка монтажа contributory error вчт. внесенная ошибка control error вчт. ошибка регулирования critical error вчт. неустранимая ошибка crude error вчт. грубая ошибка cumulative error накопленная ошибка data error вчт. ошибка в данных data-bit error вчт. ошибка в битах данных deletion error вчт. ложное исключение design error ошибка проектирования detectable error вчт. обнаруживаемая ошибка detectable error вчт. обнаружимая ошибка difficult-to-locate error вчт. труднообнаружимая ошибка displacement error вчт. ошибка из-за смещения documentation error ошибка в документации double-bit error вчт. двухбитовая ошибка dropout error вчт. ошибка из-за выпадения error поэт. блуждание error грех error заблуждение error ложное представление error отклонение, уклонение, погрешность error отклонение от номинала error ошибка, заблуждение; to make an error совершить ошибку, ошибиться; in error по ошибке, ошибочно; to be in error заблуждаться error вчт. ошибка error ошибка error вчт. погрешность error погрешность error потеря точности error «приказ об ошибке» (т.е. о передаче материалов по делу в апелляционный суд для пересмотра вынесенного судебного решения на основании ошибки, допущенной при рассмотрении дела) error радио рассогласование error рассогласование error due to sampling вчт. ошибка выборки error frequency limit вчт. максимальная частота однобитовых ошибок error in addition мат. ошибка сложения error in standard deviation ошибка среднего квадратического отклонения error in subtraction мат. ошибка вычитания error of estimation ошибка оценивания error of judgment неверное суждение error of judgment ошибочная оценка error of posting ошибка бухгалтерской проводки error status flag вчт. флаг состояния ошибки estimated error оцениваемая ошибка estimation error ошибка оценивания estimation error ошибка оценки execution error вчт. ошибка выполнения experimental error погрешность эксперемента factual error фактическая ошибка fatal error вчт. неисправимая ошибка fatal hard error вчт. неисправимая аппаратная ошибка file error вчт. ошибка при работе с файлом fixed error постоянная ошибка fixed error систематическая ошибка following error ошибка слежения formal error формальная ошибка framing error ошибка кадровой синхронизации frequency error погрешность частоты general error вчт. ошибка общего характера gross error грубая ошибка hardware error вчт. аппаратная ошибка human error вчт. ошибка оператора error ошибка, заблуждение; to make an error совершить ошибку, ошибиться; in error по ошибке, ошибочно; to be in error заблуждаться in-process error ошибка изготовления inherent error вчт. унаследованная ошибка inherited error вчт. предвнесенная ошибка inherited error вчт. унаследованная ошибка initial error вчт. начальная ошибка input error вчт. ошибка на входе insertion error вчт. ошибка ложного восприятия instantaneous error вчт. текущее значение ошибки intentional error вчт. умышленная ошибка intermediate error вчт. нерегулярная ошибка intermittent error случайная ошибка interpolation error ошибка интерполяции intrinsic error вчт. исходная ошибка introduced error вчт. внесенная ошибка introduced error вчт. допущенная ошибка irrecoverable error непоправимая ошибка isolated error вчт. локализованная ошибка isolated error вчт. одиночная ошибка judicial error судебная ошибка limiting error предел точности literal error полигр. опечатка literal: error буквенный; literal error опечатка error ошибка, заблуждение; to make an error совершить ошибку, ошибиться; in error по ошибке, ошибочно; to be in error заблуждаться marginal error вчт. краевая ошибка matching error вчт. ошибка неточного согласования material error существенная ошибка maximum error максимальная ошибка maximum error предельная ошибка maximum permissible error максимальная допустимая ошибка mean error средняя ошибка mean probable error средняя вероятная ошибка metering error ошибка измерения missing error вчт. ошибка из-за отсутствия данных nautical error навигационная ошибка no-paper error вчт. ошибка из-за отсутствия бумаги nonsampling error постоянная ошибка nonsampling error систематическая ошибка observation error ошибка наблюдения observational error ошибка наблюдения offsetting error компенсирующая ошибка operating error ошибка в процессе работы operating error ошибка из-за нарушения правил эксплуатации operation error ошибка в работе operational error ошибка из-за нарушения правил эксплуатации operator error вчт. ошибка оператора output error вчт. ошибка выхода parity error ошибка, выявленная контролем по четности parity error вчт. ошибка четности pattern-sensitive error вчт. кодочувствительная ошибка percentage error ошибка в процентах permissible error допустимая ошибка posting error ошибка при переносе в бухгалтерскую книгу precautionary error подозреваемая ошибка predictable error предсказуемая ошибка probable error вероятная ошибка probable error стат. вероятная ошибка procedural error процедурная ошибка procedural error процеждурная ошибка professional error профессиональная ошибка program error вчт. ошибка в программе program error вчт. программная ошибка propagated error накапливаемая ошибка propagated error вчт. распространяющаяся ошибка propagation error вчт. накапливающаяся ошибка pure error вчт. истинная ошибка quantitative error количественная ошибка quantization error вчт. ошибка дискретизации quiet error вчт. исправимая ошибка quite error вчт. исправимая ошибка random error случайная ошибка random sampling error ошибка случайной выборки read fault error вчт. сбой при чтении reasonable error допустимая ошибка recoverable error вчт. исправимая ошибка recoverable error исправимая ошибка recurrent error вчт. повторяющаяся ошибка reduced error приведенная погрешность relative error относительная ошибка remediable error поправимая ошибка residual error остаточная ошибка responce error вчт. ошибка ответной реакции resultant error суммарная ошибка return an error code вчт. выдавать код ошибки root-mean-square error среднеквадратичная ошибка round error вчт. ошибка округления round-off error вчт. ошибка округления rounding error вчт. ошибка округления rounding error ошибка округления run-time error вчт. ошибка при выполнении runtime error вчт. ошибка при выполнении sample error вчт. ошибка выборки sampling error вчт. ошибка выборки sampling error stat. ошибка выборки sampling error stat. ошибка выборочного обследования sampling error вчт. ошибка квантования seek error вчт. ошибка при поиске дорожки select error вчт. ошибка выборки select error вчт. ошибка отсутствия связи semantic error вчт. семантическая ошибка sequence error вчт. неправильный порядок setup error вчт. ошибка настройки severe error серьезная ошибка size error вчт. переполнение размера сетки smoothing error ошибка сглаживания soft error нерегулярная ошибка soft error вчт. случайный сбой software error comp. ошибка в системе программного обеспечения software error вчт. программная ошибка solid burst error вчт. плотный пакет ошибок solid error вчт. постоянная ошибка spelling error орфографическая ошибка srecification error ошибка в описании standard error среднеквадратическая ошибка standard error (SE) stat. среднеквадратическая ошибка steady-state error статическая ошибка stored error вчт. накопленная ошибка substantial error существенная ошибка substitution error вчт. ошибка замещения subtle error неявная ошибка syntactical error синтаксическая ошибка syntax error вчт. синтаксическая ошибка system error вчт. ошибка системы systematic error stat. систематическая ошибка tabulation error вчт. неправильная классификация technical error формальная ошибка technical error формально-юридическая ошибка time-base error вчт. ошибка синхронизации timing error вчт. ошибка синхронизации total error накопленная ошибка total error общая ошибка transient error вчт. перемежающая ошибка translation error ошибка в переводе transmission error вчт. ошибка передачи true error вчт. истинная ошибка truncation error вчт. ошибка отбрасывания членов ряда truncation error вчт. ошибка усечения typing error опечатка unbiased error случайная ошибка uncompensated error нескомпенсированная ошибка underflow error вчт. ошибка обнаружения undetectable error вчт. необнаруживаемая ошибка undetectable error вчт. необнаружимая ошибка unexpected error occured вчт. произошла непредвиденная ошибка unrecoverable error вчт. неисправимая ошибка wiring error ошибка монтажа write fault error вчт. сбой при записи write protect error вчт. ошибка в связи с защитой от записи zero error сдвиг нуля
English-Russian short dictionary > error
-
10
error
English-Russian dictionary of mechanical engineering and automation > error
-
11
error
Англо-русский словарь по экономике и финансам > error
-
12
error
ˈerə сущ.
1) заблуждение, оплошность, ошибка( во взглядах, расчетах и т. д.) in error, by error, through error ≈ по ошибке, ошибочно through a clerical error ≈ из-за канцелярской ошибки to admit to (making) an error ≈ признать ошибку to commit an error, make an error ≈ совершить ошибку, ошибиться to correct an error, rectify an error ≈ устранять ошибку, исправлять ошибку to compound an error ≈ сглаживать ошибку cardinal error ≈ главная, кардинальная ошибка costly error ≈ дорого обошедшаяся ошибка egregious error, flagrant error, glaring error ≈ грубая, вопиющая ошибка grievous error ≈ прискорбная ошибка grammatical error ≈ грамматическая ошибка printer’s error, typographical error ≈ типографская ошибка procedural error ≈ процессуальная ошибка tactical error ≈ тактическая ошибка typing error ≈ опечатка through a typing error ≈ из-за ошибки машинистки, по вине машинистки to be in error ≈ заблуждаться Syn: mistake, fault
2) проступок, грех Syn: transgression, wrong-doing
3) поэт. блуждание
4) тех. изменение, ответвление, отклонение, погрешность, уклонение Syn: deviation, digression;
swerve
5) радио рассогласование
ошибка, заблуждение, ложное представление — human * ошибка, свойственная человеку — *s of taste плохой вкус в одежде — an * of judgement неверное суждение, ошибочный расчет, ошибочная оценка — in * ошибочно, по ошибке — to do smth. in * ошибиться, сделать что-либо по ошибке — to make an * сделать ошибку;
впасть в заблуждение — to be in * ошибаться, заблуждаться — to dispossess smb. of an * (книжное) выводить кого-либо из заблуждения — to lead smb. into * вводить кого-либо в заблуждение — to fall into a serious * впасть в серьезную ошибку — he has seen the * of his ways он понял, что поступал неправильно ошибка, погрешность — spelling * ошибка в правописании — printers’ * опечатка — noise * (специальное) искажение, вызванное шумами — permissible * (техническое) допуск — actual( специальное) истинная ошибка, истинная величина ошибки — appreciable * существенная ошибка — inappreciable * незначительная погрешность — * code (компьютерное) код ошибки — * log (компьютерное) файл регистрации ошибок — * of omission упущение, недосмотр — * in reading( специальное) ошибка отсчета — to eliminate the *s устранять ошибки проступок, грех — cardinal * смертный грех — *s of youth грехи молодости — to repent one’s *s покаяться в грехах (техническое) отклонение (от номинала) ;
потеря точности — station * уклонение отвеса (радиотехника) рассогласование (юридическое) фактическая или юридическая ошибка, допущенная судом в судебном процессе — * in fact фактическая ошибка — * in procedure процессуальная ошибка — writ of * ходатайство об отмене приговора суда вследствие допущенной им при рассмотрении дела ошибки;
аппеляционная жалоба
absolute ~ абсолютная ошибка
accidental ~ случайная ошибка
accounting ~ ошибка бухгалтерского учета
accuracy ~ постоянная ошибка
addressing ~ вчт. ошибка адресации
alignment ~ погрешность юстировки
altering ~ нерегулярная ошибка
analytic truncation ~ ошибка аналитического усечения
average ~ средняя ошибка
bad call format ~ вчт. ошибка из-за неправильного вызова
bad command ~ вчт. ошибка из-за неправильной команды
balancing ~ сбалансированная ошибка
~ ошибка, заблуждение;
to make an error совершить ошибку, ошибиться;
in error по ошибке, ошибочно;
to be in error заблуждаться
bias ~ постоянная ошибка
biased ~ постоянная ошибка biased ~ систематическая ошибка
burst ~ вчт. пакет ошибок
calculating ~ погрешность расчета
call ~ вчт. ошибка вызова
chance ~ случайная ошибка
checksum ~ вчт. ошибка в контрольной сумме
code ~ вчт. ошибка в коде
coincidence ~ вчт. ошибка совпадения
common ~ вчт. обычная ошибка
compensating ~ вчт. компенсирующая ошибка compensating ~ компенсирующая ошибка
compile-time ~ вчт. ошибка при трансляции
completeness ~ вчт. ошибка завершения
configuration ~ вчт. ошибка компоновки configuration ~ вчт. ошибка конфигурации
connection ~ вчт. ошибка монтажа
consistency ~ вчт. ошибка из-за несовместимости
constant ~ постоянная ошибка constant ~ систематическая ошибка
constructional ~ вчт. ошибка монтажа
contributory ~ вчт. внесенная ошибка
control ~ вчт. ошибка регулирования
critical ~ вчт. неустранимая ошибка
crude ~ вчт. грубая ошибка
cumulative ~ накопленная ошибка
data ~ вчт. ошибка в данных
data-bit ~ вчт. ошибка в битах данных
deletion ~ вчт. ложное исключение
design ~ ошибка проектирования
detectable ~ вчт. обнаруживаемая ошибка detectable ~ вчт. обнаружимая ошибка
difficult-to-locate ~ вчт. труднообнаружимая ошибка
displacement ~ вчт. ошибка из-за смещения
documentation ~ ошибка в документации
double-bit ~ вчт. двухбитовая ошибка
dropout ~ вчт. ошибка из-за выпадения
error поэт. блуждание ~ грех ~ заблуждение ~ ложное представление ~ отклонение, уклонение, погрешность ~ отклонение от номинала ~ ошибка, заблуждение;
to make an error совершить ошибку, ошибиться;
in error по ошибке, ошибочно;
to be in error заблуждаться ~ вчт. ошибка ~ ошибка ~ вчт. погрешность ~ погрешность ~ потеря точности ~ «приказ об ошибке» (т.е. о передаче материалов по делу в апелляционный суд для пересмотра вынесенного судебного решения на основании ошибки, допущенной при рассмотрении дела) ~ радио рассогласование ~ рассогласование
~ due to sampling вчт. ошибка выборки
~ frequency limit вчт. максимальная частота однобитовых ошибок
~ in addition мат. ошибка сложения
~ in standard deviation ошибка среднего квадратического отклонения
~ in subtraction мат. ошибка вычитания
~ of estimation ошибка оценивания
~ of judgment неверное суждение ~ of judgment ошибочная оценка
~ of posting ошибка бухгалтерской проводки
~ status flag вчт. флаг состояния ошибки
estimated ~ оцениваемая ошибка
estimation ~ ошибка оценивания estimation ~ ошибка оценки
execution ~ вчт. ошибка выполнения
experimental ~ погрешность эксперемента
factual ~ фактическая ошибка
fatal ~ вчт. неисправимая ошибка
fatal hard ~ вчт. неисправимая аппаратная ошибка
file ~ вчт. ошибка при работе с файлом
fixed ~ постоянная ошибка fixed ~ систематическая ошибка
following ~ ошибка слежения
formal ~ формальная ошибка
framing ~ ошибка кадровой синхронизации
frequency ~ погрешность частоты
general ~ вчт. ошибка общего характера
gross ~ грубая ошибка
hardware ~ вчт. аппаратная ошибка
human ~ вчт. ошибка оператора
~ ошибка, заблуждение;
to make an error совершить ошибку, ошибиться;
in error по ошибке, ошибочно;
to be in error заблуждаться
in-process ~ ошибка изготовления
inherent ~ вчт. унаследованная ошибка
inherited ~ вчт. предвнесенная ошибка inherited ~ вчт. унаследованная ошибка
initial ~ вчт. начальная ошибка
input ~ вчт. ошибка на входе
insertion ~ вчт. ошибка ложного восприятия
instantaneous ~ вчт. текущее значение ошибки
intentional ~ вчт. умышленная ошибка
intermediate ~ вчт. нерегулярная ошибка
intermittent ~ случайная ошибка
interpolation ~ ошибка интерполяции
intrinsic ~ вчт. исходная ошибка
introduced ~ вчт. внесенная ошибка introduced ~ вчт. допущенная ошибка
irrecoverable ~ непоправимая ошибка
isolated ~ вчт. локализованная ошибка isolated ~ вчт. одиночная ошибка
judicial ~ судебная ошибка
limiting ~ предел точности
literal ~ полигр. опечатка literal: ~ буквенный;
literal error опечатка
~ ошибка, заблуждение;
to make an error совершить ошибку, ошибиться;
in error по ошибке, ошибочно;
to be in error заблуждаться
marginal ~ вчт. краевая ошибка
matching ~ вчт. ошибка неточного согласования
material ~ существенная ошибка
maximum ~ максимальная ошибка maximum ~ предельная ошибка
maximum permissible ~ максимальная допустимая ошибка
mean ~ средняя ошибка
mean probable ~ средняя вероятная ошибка
metering ~ ошибка измерения
missing ~ вчт. ошибка из-за отсутствия данных
nautical ~ навигационная ошибка
no-paper ~ вчт. ошибка из-за отсутствия бумаги
nonsampling ~ постоянная ошибка nonsampling ~ систематическая ошибка
observation ~ ошибка наблюдения
observational ~ ошибка наблюдения
offsetting ~ компенсирующая ошибка
operating ~ ошибка в процессе работы operating ~ ошибка из-за нарушения правил эксплуатации
operation ~ ошибка в работе
operational ~ ошибка из-за нарушения правил эксплуатации
operator ~ вчт. ошибка оператора
output ~ вчт. ошибка выхода
parity ~ ошибка, выявленная контролем по четности parity ~ вчт. ошибка четности
pattern-sensitive ~ вчт. кодочувствительная ошибка
percentage ~ ошибка в процентах
permissible ~ допустимая ошибка
posting ~ ошибка при переносе в бухгалтерскую книгу
precautionary ~ подозреваемая ошибка
predictable ~ предсказуемая ошибка
probable ~ вероятная ошибка probable ~ стат. вероятная ошибка
procedural ~ процедурная ошибка procedural ~ процеждурная ошибка
professional ~ профессиональная ошибка
program ~ вчт. ошибка в программе program ~ вчт. программная ошибка
propagated ~ накапливаемая ошибка propagated ~ вчт. распространяющаяся ошибка
propagation ~ вчт. накапливающаяся ошибка
pure ~ вчт. истинная ошибка
quantitative ~ количественная ошибка
quantization ~ вчт. ошибка дискретизации
quiet ~ вчт. исправимая ошибка
quite ~ вчт. исправимая ошибка
random ~ случайная ошибка
random sampling ~ ошибка случайной выборки
read fault ~ вчт. сбой при чтении
reasonable ~ допустимая ошибка
recoverable ~ вчт. исправимая ошибка recoverable ~ исправимая ошибка
recurrent ~ вчт. повторяющаяся ошибка
reduced ~ приведенная погрешность
relative ~ относительная ошибка
remediable ~ поправимая ошибка
residual ~ остаточная ошибка
responce ~ вчт. ошибка ответной реакции
resultant ~ суммарная ошибка
return an ~ code вчт. выдавать код ошибки
root-mean-square ~ среднеквадратичная ошибка
round ~ вчт. ошибка округления
round-off ~ вчт. ошибка округления
rounding ~ вчт. ошибка округления rounding ~ ошибка округления
run-time ~ вчт. ошибка при выполнении
runtime ~ вчт. ошибка при выполнении
sample ~ вчт. ошибка выборки
sampling ~ вчт. ошибка выборки sampling ~ stat. ошибка выборки sampling ~ stat. ошибка выборочного обследования sampling ~ вчт. ошибка квантования
seek ~ вчт. ошибка при поиске дорожки
select ~ вчт. ошибка выборки select ~ вчт. ошибка отсутствия связи
semantic ~ вчт. семантическая ошибка
sequence ~ вчт. неправильный порядок
setup ~ вчт. ошибка настройки
severe ~ серьезная ошибка
size ~ вчт. переполнение размера сетки
smoothing ~ ошибка сглаживания
soft ~ нерегулярная ошибка soft ~ вчт. случайный сбой
software ~ comp. ошибка в системе программного обеспечения software ~ вчт. программная ошибка
solid burst ~ вчт. плотный пакет ошибок
solid ~ вчт. постоянная ошибка
spelling ~ орфографическая ошибка
srecification ~ ошибка в описании
standard ~ среднеквадратическая ошибка standard ~ (SE) stat. среднеквадратическая ошибка
steady-state ~ статическая ошибка
stored ~ вчт. накопленная ошибка
substantial ~ существенная ошибка
substitution ~ вчт. ошибка замещения
subtle ~ неявная ошибка
syntactical ~ синтаксическая ошибка
syntax ~ вчт. синтаксическая ошибка
system ~ вчт. ошибка системы
systematic ~ stat. систематическая ошибка
tabulation ~ вчт. неправильная классификация
technical ~ формальная ошибка technical ~ формально-юридическая ошибка
time-base ~ вчт. ошибка синхронизации
timing ~ вчт. ошибка синхронизации
total ~ накопленная ошибка total ~ общая ошибка
transient ~ вчт. перемежающая ошибка
translation ~ ошибка в переводе
transmission ~ вчт. ошибка передачи
true ~ вчт. истинная ошибка
truncation ~ вчт. ошибка отбрасывания членов ряда truncation ~ вчт. ошибка усечения
typing ~ опечатка
unbiased ~ случайная ошибка
uncompensated ~ нескомпенсированная ошибка
underflow ~ вчт. ошибка обнаружения
undetectable ~ вчт. необнаруживаемая ошибка undetectable ~ вчт. необнаружимая ошибка
unexpected ~ occured вчт. произошла непредвиденная ошибка
unrecoverable ~ вчт. неисправимая ошибка
wiring ~ ошибка монтажа
write fault ~ вчт. сбой при записи
write protect ~ вчт. ошибка в связи с защитой от записи
zero ~ сдвиг нуляБольшой англо-русский и русско-английский словарь > error
-
13
error
1) ошибка; погрешность
•
to hold measurement errors to… — удерживать погрешности измерений в пределах…;
error of position — 1. погрешность в определении положения или местоположения 2. геод. координатная невязка
Англо-русский словарь технических терминов > error
-
14
error
English-Russian dictionary of computer science and programming > error
-
15
error
English-Russian dictionary of telecommunications and their abbreviations > error
-
16
MPE
9) Сокращение: MPE Test Utility , Midi Provence Electronique , Mission Planning Element, Mission to Planet Earth, maximum permissible, most probable estimate
18) Глоссарий компании Сахалин Энерджи: ПДВ , предельно допустимый выброс в атмосферу , Maximum Permissible Emission
Универсальный англо-русский словарь > MPE
-
17
MPE
MPE, maximum permissible error
максимально допустимая ошибка [погрешность]
————————
MPE, maximum permissible exposure
предельно допустимая [пороговая] доза облучения
————————
MPE, missile positioning equipment
————————
MPE, mission-peculiar equipment
военное имущество, выдаваемое с учетом характера выполняемой задачи
————————
MPE, monthly project evaluation
English-Russian dictionary of planing, cross-planing and slotting machines > MPE
-
18
rate
5) норма || нормировать
6) тариф || тарифицировать
отношение; коэффициент9) разряд; сорт; класс || классифицировать
10) оценка || оценивать
•
Англо-русский словарь технических терминов > rate
-
19
limit
•
limit of «in» — предел втягивания
limit of «out» — предел выдвижения
Англо-русский словарь технических терминов > limit
-
20
MPE
2. maximum permissible exposure — максимально допустимая доза облучения; максимально допустимое воздействие; максимально допустимое время облучения; предельно допустимая доза облучения;
Англо-русский словарь технических аббревиатур > MPE
См. также в других словарях:
-
maximum permissible error of a measuring instrument — didžiausia leidžiamoji matavimo priemonės paklaida statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Didžiausia paklaida, kuriai esant matavimo priemone dar galima matuoti. atitikmenys: angl. maximum permissible error of a measuring… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
-
maximum permissible errors of a measuring instrument — matavimo priemonės leidžiamosios paklaidos ribos statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Tam tikrõs matavimo priemonės kraštutinės paklaidõs vertės, kurias leidžia techninių sąlygų aprašai, reglamentai ir kt. atitikmenys: angl … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
-
limits of permissible error of a measuring instrument — matavimo priemonės leidžiamosios paklaidos ribos statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Tam tikrõs matavimo priemonės kraštutinės paklaidõs vertės, kurias leidžia techninių sąlygų aprašai, reglamentai ir kt. atitikmenys: angl … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
-
Position error — is one of the errors affecting the systems in an aircraft for measuring airspeed and altitude. [Kermode, A.C., Mechanics of Flight , 10th Edition – page 65] [”Of these errors the error in detection of static pressure is generally the most serious … Wikipedia
-
ГОСТ Р 8.726-2010: Государственная система обеспечения единства измерений. Датчики весоизмерительные. Общие технические требования. Методы испытаний — Терминология ГОСТ Р 8.726 2010: Государственная система обеспечения единства измерений. Датчики весоизмерительные. Общие технические требования. Методы испытаний оригинал документа: 3.1.3 весоизмерительный датчик (load cell): Преобразователь силы … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
-
ГОСТ Р ЕН 1434-1-2011: Теплосчетчики. Часть 1. Общие требования — Терминология ГОСТ Р ЕН 1434 1 2011: Теплосчетчики. Часть 1. Общие требования: 4.2 быстродействующий теплосчетчик (fast response meter): Теплосчетчик, предназначенный для применения в системах теплоснабжения с быстрыми динамическими изменениями… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
-
MPE — Die Abkürzung MPE kann für folgende Begriffe stehen: Max Planck Institut für extraterrestrische Physik in Garching Maximum Permissible Error die maximal zugelassenen Extremwerte für eine Messabweichung eines betrachteten Messgeräts Medizinphysik… … Deutsch Wikipedia
-
didžiausia leidžiamoji matavimo priemonės paklaida — statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Didžiausia paklaida, kuriai esant matavimo priemone dar galima matuoti. atitikmenys: angl. maximum permissible error of a measuring instrument vok. maximal zulässiger Fehler eines… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
-
erreur maximale tolérée d’un instrument de mesurage — didžiausia leidžiamoji matavimo priemonės paklaida statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Didžiausia paklaida, kuriai esant matavimo priemone dar galima matuoti. atitikmenys: angl. maximum permissible error of a measuring… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
-
maximal zulässiger Fehler eines Messmittels — didžiausia leidžiamoji matavimo priemonės paklaida statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Didžiausia paklaida, kuriai esant matavimo priemone dar galima matuoti. atitikmenys: angl. maximum permissible error of a measuring… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
-
максимальная допустимая погрешность средства измерений — didžiausia leidžiamoji matavimo priemonės paklaida statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Didžiausia paklaida, kuriai esant matavimo priemone dar galima matuoti. atitikmenys: angl. maximum permissible error of a measuring… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
Electrical instrumentation
H. Barber BSc, DrP Urwin BSc, PhD, CEng, MIEE, in Plant Engineer’s Reference Book (Second Edition), 2002
24.8.3 Error limits
The permissible error limits are defined in BS 37. In general, the error must not exceed ±2 per cent over the working range, although in practice the accuracy is usually much higher than this. Temperature changes are compensated for in the design and the instrument is likely to be unaffected by variations in voltage and frequency provided that these are within the limits laid down in the Electricity Supply Acts (±4 per cent in voltage and ±0.2 per cent for frequency). Very low voltages and reduced supply frequencies will both cause the instrument to read high if the load has a high power factor. If the power factor is low and the load is predominantly inductive then the frequency effect is reversed.
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780750644525500791
Electrical Measurement
MJ Cunningham MSC, PHD, MIEE, CEng, GL Bibby BSc, CEng, MIEE, in Electrical Engineer’s Reference Book (Sixteenth Edition), 2003
11.6.1.1 Performance of single-phase meters
The limits of permissible error are defined in BS 37. In general, the error should not exceed ± 2% over most of the working range for credit meters. For prepayment meters, +2 and −3% for loads above 1/30 full load at unity power factor, at any price setting to be used, are the specified limits. Tests for compliance with this requirement at and below 1/10 marked current must be made with the coin condition that not less than one nor more than three coins of the highest denomination acceptable by the meter are prepaid.
It is usual for manufacturers to adjust their meters to less than one-half of the permissible error over much of the working range. The mean error of an individual meter is, of course, less than the maximum observable error, and the mean collective error of a large number of meters is likely to be much less than ± 1% at rated voltage and frequency. If no attempt is made during production testing to bias the error in one direction, the weighted mean error of many meters taken collectively is probably within 0.5%, and is likely to be positive (see Figure 11.5(a)).
Figure 11.5. Typical performance of 240 V, 50 Hz, 20–80 A house-service meter (Ferranti Ltd)
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780750646376500113
Healthcare quality and ISO/IEC 17020
Zijad Džemić, … Almir Badnjević, in Clinical Engineering Handbook (Second Edition), 2020
Conclusion
Medical devices with measuring function within legal metrology have to be inspected periodically so that we can be sure that they work in line with maximal permissible errors prescribed by competent authority for legal metrology system in the state. For this purpose, we need competent inspection body which has implemented ISO/IEC 17020 and which is approved by competent authority to confirm whether medical devices with measuring function work with the prescribed maximal permissible errors or not and whether they are safe for further use or not. In this way, maximal protection of users of medical devices with measuring function as well as professional staff using these devices to give diagnosis is accomplished. The goal of this document is to present necessary requirements for the implantation of the quality system in the inspection body or nominated laboratory for the inspection of medical devices with measuring function and to emphasize error prevention and reduction in variation and organizational waste (e.g., non-value-added cost activities). Also, establishing quality system in line with ISO/IEC 17020 standard will raise the confidence of third parties in the work of inspection body for the inspection of medical devices with measuring function. Further, this chapter provides an insight into the requirements resulting from the standard and gives short instruction how it can be implemented.
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780128134672001048
Handbook of Conveying and Handling of Particulate Solids
J.R. Pugh, in Handbook of Powder Technology, 2001
2.2.1 Belt weighers
The performance of belt weighers is such that they may be used in applications which are ‘legal for trade’. For systems approved in commercial applications the maximum permissible errors in OIML class 1 are: at initial verification = 0.5% of the totalised load for any flow between 20 — 100 % of maximum and in service the figure is permitted to rise to 1%. The maximum permissible errors for a class 0.5 system are half those of class 1, whereas those for a class 2 system are double those for class 1 [6]. A summary of the approximate typical performance of belt weighers is presented in Table 2 [7].
Table 2. Typical performance of belt weighers.
| Application | Single Idler | Multiple Idler |
|---|---|---|
| Heavy duly industrial | ± 1 — 2 % | ±0.5 — 1 % |
| Shorter belts designed for weighing | ± 0.5 — 1% | ± 0.2 — 0.5 % |
| Belt feeders — material from a bunker is likely to cause fluctuations in bell tension | ± 1 — 2 % | ±0.5 — 1 % |
| Slow moving, thin belts e.g. chemical industry | ±0.1 — 0.3% |
The mass flow is deduced by multiplying the measured linear density (weight / length) with the measured belt velocity. Although errors are introduced by factors such as variable belt tension and variable idler height [8], the variation in the measurement of belt speed by the build-up of material on an idler wheel is perhaps the most common source of error.
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0167378501800828
Nanotechnology and Nanomedicine in Market
Sheila Devasahayam, in Characterization and Biology of Nanomaterials for Drug Delivery, 2019
7.5.3 Pattern Approval Specification
An LMF for legal NT measurements will involve following:
- •
-
developing PA standards for each measurement
- •
-
prescription of reference methods
- •
-
prescription of reference materials
- •
-
prescription of maximum permissible errors (MPEs) for PA, verification, and reverification tests
- •
-
scale interval specifications
- •
-
reference conditions for PA, verification, and reverification
- •
-
prescription of ALUMs for chemical and biologic measurements
- •
-
recognition of units of measurement other than SI units
- •
-
prescribing conversion factors if applicable
- •
-
prescribing sampling procedures
7.5.3.1 Gaps in Developing LMFs
There are six principle nanometrology themes:
- •
-
nanodimensional metrology
- •
-
nanomechanical metrology
- •
-
nanostructured materials metrology
- •
-
nanochemical metrology
- •
-
nanobio metrology
- •
-
nanoelectrometrology
Nanodimensional metrology forms the basis of physicochemical properties identified in Section 7.4.2. Demonstrating traceability by means of reference artifacts becomes increasingly challenging as size diminishes toward the nanoscale. The development of standards for measurement, characterization, and test methods for nanotechnologies and reference materials for individual measurements and uncertainties in measurements are being undertaken by the nanometrology group at the NMI. Without this information, it is not possible to prescribe MPEs, reference methods/standards, and reference materials required for PA specification.
Nanodimensional metrology is fundamental to nanomechanical, nanooptical, nanoelectrical, nanomagnetic, and nanoacoustic metrology, where precise spatial positioning and spatial resolution of the probe of the measuring instrument at a specified point with the highest accuracy is of paramount importance [80]. To coordinate harmonized standardization in nanometrology, ISO/IEC/National Institute of Standards and Technology (NIST)/OECD have identified the current status, gaps, and needs in the areas of nanometrology:
7.5.3.1.1 Dimensional Nanometrology
7.5.3.1.1.1 Current Status
- •
-
There is well-established, widespread, world-class capability for nanodimensional measurement with good international collaboration and foresighting activity.
- •
-
The geometric product specification series of documentary standards, developed for stylus profilometry, are the de facto standards used by the NMIs for nanoscale surface texture measurement, but these are not well known outside the engineering discipline. The lag in development of specification standards specifically for areal surface measuring instruments hinders comparison of methods.
7.5.3.1.1.2 Gaps
- •
-
Dimensional measurement of nanoparticle sizing is a key issue to be addressed in the short term to satisfy requirements for quality control and health and safety monitoring. A longer-term goal is to achieve accuracy of measurement at the sub-nm level over three-dimensional mm ranges to enable precise positioning of nanostructures.
7.5.3.1.2 Nanomechanical Metrology
7.5.3.1.2.1 Current Status [81]
- •
-
Nanomechanical measurements are required for nanostructures produced by “top-down” and “bottom-up” technologies and for nanostructures that are embedded in a matrix material. AFM and nanoindentation are key tools because of their versatility.
- •
-
Prenormative efforts are through the VAMAS technical working area (TWA 22, TWA 29, TWA 2).
- •
-
Documentary standards are underway (ISO TC 164, TC 201).
- •
-
Underpinning metrology for contact mechanics are being developed: Testing is often required on devices, so the test must be constructed specifically to accommodate the device. This may be achieved by setting up the mechanical test in an SEM, or by designing test structures in the device.
- •
-
Issues of traceability of measurements for force, displacement, and tip shape have been resolved.
7.5.3.1.2.2 Gaps
- •
-
Immediate requirements are the setting up of traceable routes needed for calibration of the lower force ranges and small displacement measurements that are required for nanomechanical measurements.
- •
-
Inverse modeling of nanoindentation is currently a major focus of international work in the area that promises to achieve the goal of providing full stress-strain information with high spatial resolution for a material.
- •
-
Better procedures are required for the traceable evaluation of tip shape down to the few nm (0–5 nm or less) scale relevant for AFM probes. There is also a need to develop probes for reduced wear to give increased lifetime in terms of calibration and use supported by the development of Reference Materials (RMs) that can be routinely used to check that instruments are working correctly. However, there will be limits to the atomic stability of materials kept in atmospheric conditions that make truly nanoscale reference materials unlikely.
- •
-
Finally, with the growing importance of the life sciences, it is highly likely that improved nanomechanical testing for nanobio interface structures will be required. Another pressing need is to extend nanomechanical measurements to more extreme operating conditions, such as high temperatures, controlled gasses, and aqueous environments.
- •
-
Accuracy of measurements is limited by knowledge of the basic science in contact mechanics and experimental parameters such as AFM or indentor probe shape and accurate measurement of applied force and friction at the nanoscale [82].
- •
-
Another goal is the development of noncontact techniques that provide nanoscale mechanical property information without any permanent damage to the sample.
7.5.3.1.3 Nanochemical Metrology
7.5.3.1.3.1 Current Status
- •
-
There are a number of well-established methods for chemical analysis with spatial resolutions at the microscale.
- •
-
There is a rapidly growing requirement for the nanochemical characterization of nanoparticles both for engineered nanoparticles for a wide range of applications, including sun screens, cosmetics, and biodiagnostics, and the surface chemistries of ambient nanoparticles to correlate with and inform toxicology studies.
- •
-
NMIs, chiefly NPL, NIST, KRISS, and BAM, are strongly engaged in establishing infrastructure for nanochemical measurement through underpinning metrology, intercomparisons, and the development of international standards through prenormative VAMAS TWA 2 initiatives.
- •
-
Standardization in the field of surface chemical analysis: significant activity in surface chemical analysis including analytical techniques in which beams of electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are incident on the specimen and scattered or emitted electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are detected. This includes techniques in which probes are scanned over the surface and surface-related signals are detected (surfaces Auger electron spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry [SIMS], SPM). Over 50 standards or technical reports have already been published or are in progress.
7.5.3.1.3.2 Gaps
- •
-
calibration, reference materials, effects of environment, description of probes, cantilever calibration of SPM (lateral resolution of a near-field scanning optical microscope [SNOM], AFM),
- •
-
surface analysis of nanostructured materials,
- •
-
organic and biologic materials,
- •
-
nanoparticle characterization (surface to core),
- •
-
new techniques for <50 nm chemical analysis (AFM; Raman/TERS systems). The major focus currently is the development of new techniques to achieve spatial resolutions below 50 nm, such as hyphenated scanned probe and spectroscopic techniques such as TERS and other developments including mass spectrometry. These techniques need the metrology to be developed for valid, reliable, and comparable measurements.
7.5.3.1.4 Nanostructured Materials
7.5.3.1.4.1 Current Status
- •
-
Nanomaterials currently in use have been developed primarily through empirical research.
- •
-
Despite the remarkable advances in instrumentation in the last 20 years and especially since the development of scanning near-field methods such as the STM, AFM, and SNOM, the resolution, accuracy, and capability of the currently available instruments and tools are being stretched to the limits and are not expected to meet many of the needs of industries that want to incorporate nanomaterials into commercial products and manufacturing processes.
- •
-
Generally, multiple methods are required to characterize a nanostructured material, and coherent strategies are required for combining input from multiple experimental methods and theory such as X-ray reflectivity, near-edge X-ray absorption fine structure, X-ray diffraction, TEM, environmental scanning electron microscope, Rutherford backscattering spectrometry/channeling, neutron reflectivity, small angle neutron scattering, atom probe and helium ion microprobe.
7.5.3.1.4.2 Gaps
- •
-
a major limitation to the pace of innovation in the field comes from the lack of systematic understanding of the fundamental physical and chemical interactions at this scale due to the absence of reliable and accurate measurement;
- •
-
nanoparticle and nanomaterial reference materials;
- •
-
nanoparticle characterization in liquid, composite matrix, dry form;
- •
-
a coherent strategy is required to apply techniques to understand structure;
- •
-
SPM methods such as scanning capacitance microscopy, Kelvin probe microscopy, and magnetic force microscopy.
7.5.3.1.5 Nanoelectronics
7.5.3.1.5.1 Current Status
- •
-
the International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS) roadmap for the semiconductor industry identifies a lack of known metrology solutions for many of the parameters that will be required for the next-generation ICs;
- •
-
position metrology and characterization methods for Si-based extended complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) devices such as strained Si and high-k materials;
- •
-
metrology for novel systems, i.e., CNT quantized electrical and thermal conductance, IEEE standards for CNTs in development;
- •
-
single electron transport measurement.
7.5.3.1.5.2 Gaps
- •
-
quantum standards based on c, e, and h using so-called quantum metrological triangle V, I, f
- •
-
beyond CMOS: metrology for molecular electronics; molecules, CNTs, graphene, and nanorods
- •
-
quantum detection and sensors.
7.5.3.1.6 Nanobio Metrology
7.5.3.1.6.1 Current Status
- •
-
There are a wide range of physicochemical analytical and bioanalytical techniques to characterize, manipulate, and understand nanobiotechnology systems. The information provided by these techniques ranges from quantity and distribution to identity and structure through function and activity. The linkage between these is key to understanding biologic systems and nanobiotechnology devices.
- •
-
Traceability in nanobio metrology is in the very early stages, but increasing demand from industry and regulators is driving growth strongly. It is recognized that the need for traceability and standards is growing, particularly in the context of an increasing desire from regulators to improve quality control and standardization in this area.
- •
-
Validated methods for determining the toxicity of nanoparticles are required. This is likely to be one of the first areas in which standards are needed.
- •
-
NMIs establishing metrology.
- •
-
International Bureau of Weights and Measures, CCQM, and Joint Committee on Traceability in Laboratory Medicine are a key focus of metrology for biotechnology roadmaps.
- •
-
Focus on single molecule metrology.
7.5.3.1.6.2 Gaps
- •
-
nanomedicine (European Technology Platform) major area for innovation and new therapeutics
- •
-
quantity, structure, function, and activity
- •
-
biochemical techniques that operate ex situ or in vivo
- •
-
bioactivity of nanoparticles
- •
-
process analytical technologies driving physicochemical measurement
- •
-
metrology to support IVD directives.
7.5.3.2 Considerations of Some Measurement Issues
Extrinsic properties will be more challenging relative to the intrinsic properties of MNs in formulating PA specifications, as the relevant external parameters are many and unknown. It is felt that for some measurements under consideration, meeting the traceability requirements will be too complicated due to the range of external parameters that need to be considered.
In such cases, responsibility of manufacturers through colegislation could be given serious consideration to address the EHS issues.
Most of the nanomaterials under investigation are prepared through the bottom-up approach of nanotechnology (Fig. 17.2) by exploiting fundamental thermodynamic chemical and physical laws. Hence, it is possible that at least the intrinsic properties of these materials are available from most of the manufacturers of these materials.
During the OIML 2020 seminar [83], it was proposed that in keeping with advances in technologies, the PA, certification, and accreditation functions should be delegated to a private body based on a quality system (burden of proof on the manufacturers). Private sector’s involvement along with the public sector in funding the research and development of EHS can lead to improved products with superior commercial value. It will lead to a shared responsibility in establishing uniform test procedures for the MNs. The European Union has already adopted the scheme. Such an approach is also practiced by the TGA in Australia.
The size measurement at nanoscale is inferential and is not a direct measure. Size distributions of the MNs are crucial to address the EHS issues. Size is technique specific. Size estimation by different instruments varies by at least 40%, even in the microscale range [84]. Hence, appropriate conversion factors need to be worked out for different techniques to demonstrate equivalence. When the shape of the particle is not isomeric, comparisons between the techniques would be too complicated; hence the shape factors need defining. The following measures are recommended as immediate activities in the absence of necessary information required to develop PA:
- •
-
Prescription of ALUMs for some of the measurements need to be identified, including chemical and biologic measurements, and steps to recognize the WHO I.U.s for biologic measurements.
- •
-
In addition, certification of Australian Primary and Secondary standards and recognition of foreign reference standards and reference materials used for nanodimensional measurements are recommended.
A possible LM framework superimposed on nanometrology group’s traceability program for nanodimensional measurements is presented in Fig. 17.11 [85]. (The nanodimensional traceability diagram of Dr. Jamting’s Taiwan presentation, APEC, 2009, is adapted for this purpose).
Figure 17.11. A possible legal metrology framework for traceability of nanoscale dimensional measurements.
Adapted from Dr. Jamting’s presentation, APEC, Taiwan, 2009.
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780128140314000179
Offshore Oil and Gas Drilling Engineering and Equipment
Huacan Fang, Menglan Duan, in Offshore Operation Facilities, 2014
2.3.1.1 Offshore Positioning of the Drilling Platform (Ship)
- 1.
-
Accuracy requirements of positioning
With the improvement of positioning technology, we have become increasingly strict on the accuracy requirements of in place design of the platform (ship) well location. At present, the permissible error in China is a circle with a radius of 30 m when taking the designed well location as center.
- 2.
-
Method of platform (ship) positioning
Currently, the GPS global positioning system is commonly used in offshore positioning. It’s a kind of high-precision positioning global coverage system. It can provide the exact location of the drilling platforms (ships) at all times, and display the information on the screen in the form of data and icons using the satellites in space and standard stations on Earth. When towing, we input designed routes, and we can know the location, speed, and course of the actual routes of the platform (ship) position and the deviation from the designed routes. By entering the well location coordinates and platform heading, we can display at any time the difference of the actual and designed location of the platform (ship). When dropping anchor, if the boat installs a trailer tracking device, and the orientation and the distance of the anchor is entered, the accuracy of the anchor can be shown to guide the platform (ship) in place precisely and drop the anchor. While the work boat doesn’t install trailer tracking equipment, the anchor boat can only use the radar equipment on board to determine the orientation of the anchor. It also can confirm whether the distance meets the design requirements, according to the chain scope of the platform (ship) or by reference to radar ranging.
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780123969774000020
Design and Implementation of Digital FIR Filters
P.P. VAIDYANATHAN, in Handbook of Digital Signal Processing, 1987
B Design Specifications
The simplest type of design specification is the lowpass frequency response. Other types will be taken up in later sections. Figure 2.2 shows an ideal lowpass response, and Fig. 2.3 shows a typical tolerance requirement. Here δ1 and δ2 represent the peak permissible errors in the passband and stopband, respectively. The transition bandwidth Δf is
Fig. 2.2. An ideal lowpass filter specification.
Fig. 2.3. Tolerance scheme for a practical lowpass filter specification.
(2.7a)Δf=ωr−ωp2π
where ωp and ωr are the passband and stopband (rejection band) edges, respectively. The cutoff frequency ωc of a lowpass filter is defined to be the arithmetic mean of the bandedges:
(2.7b)ωc=ωp+ωr2
The variable f, defined as f = ω/2π, is called the normalized frequency (see Fig. 1.6). Thus, for real h(n) we plot |H(ejω)| in the range 0 ≤ f ≤ 0.5. A typical design problem is to find FIR filter transfer function H(z) such that the frequency response magnitude lies within the tolerance region of Fig. 2.3.
The minimum stopband attenuation in dB is defined as
(2.8)Ar=−20log10δ2
and the peak passband attenuation in dB is denned as
(2.9)Ap=−20log10(1−δ1)
For small δ1,
(2.10)Ap≈8.686δ1 dB
The notation Amax denotes the quantity 2Ap. If the frequency response is normalized so that its maximum magnitude (in the passband) is unity, Amax essentially represents the maximum passband attenuation in dB for small δ1.
In most of the numerical design examples we show the frequency response plots, along with passband details (see, for example, Fig. 2.9). The response is plotted in dB; that is, 20 log10|H(ejω)| is plotted. The passband details, however, are not plotted in dB, but |H(ejω)| is displayed. The passband edges (for example, normalized frequencies 0.0 and 0.08) are always explicitly indicated in the passband blowups.
Fig. 2.9. Example 2: Lowpass filter, equiripple design.
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780080507804500072
Computational Error and Complexity in Science and Engineering
V. Lakshmikantham, S.K. Sen, in Mathematics in Science and Engineering, 2005
4.5 Error in arguments with prescribed accuracy in function (inverse problem)
The problem of obtaining the allowable errors in the arguments x1, x2,.., xn when the error Δf in the function f is specified is indeter minate since there is only one equation for Δf and there are n unknowns Δx1, Δx2,.., Δxn. So, we use the principle of equal effects which is, in the real-world situation, quite reasonable. For example, associated with each measuring instrument there is an order of error which is fixed. When this instrument is used to measure a quantity several times or different similar quantities once each (or more than once each) then the order of error in each of the measurements will remain the same. The principle of equal effects is thus justified. It assumes that the values (∂f/∂xi)Δxi, i = 1 (1)n are all equal. Hence
Δf=n(∂f/∂xi)ΔxiorΔxi=Δf/[n(∂f/∂xi)],i=1(1)n.
Let the value of the function f(x1,x2)=x12sinx2 be required to three decimal places (Sen 2003; Krishnamurthy and Sen 2001). We find the permissible errors in x1 and x2 when x1 is approximately 10 and x2 is approximately 25 as follows. Here Δf=0.5×10-3, x1=10, x2=25, n=2, ∂f/∂x1=2x1sinx2=-2.6470, ∂f/∂x2=x12cosx2=99.1203. Hence the permissible error in x1 is Δx1 = Δf/[n(∂f/∂x1)] = 0.9445 × 10− 4 (omitting the negative sign), and that in x2 is Δx2 = Δf/[n(∂f/∂x2)] = 0.2522×10− 5. As a particular case, for a function f(x) of one argument (one independent variable) x, the permissible error in x is Δx = Δf/(df/dx). Thus, if f(x) = 2logex then Δx = xΔf/2. If f(x) = e− x then Δx = exΔf (omitting the negative sign).
Consider the physical problem: The absolute error in power dissipated in 10 Ohm resistor carrying a current of 3 A should not be more than 1 Watt. What are the allowable absolute errors in measuring current and resistance? Here Δp = 1 Watt, i=3 A, r=10 Ohm, n=2, ∂p/∂i = 2ir = 2×3×10 = 60, ∂p/∂r = i2 = 32 = 9. Hence the allowable absolute error in measuring the current is Δi = Δp/[n∂p/∂i] = 1/[2×60] = 1/120 = 0.0083 A while that in measuring resistance is Δr = Δp/[n∂p/∂r] = 1/[2×9] = 1/18 = 0.0556 Ohm.
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0076539205800554
Inspection of medical devices
Almir BadnjevićLejla Gurbeta PokvićLemana Spahić, in Clinical Engineering Handbook (Second Edition), 2020
Blood pressure monitors inspection
Blood pressure measuring equipment should be regularly checked and calibrated. Frequency of inspections and calibrations should meet legislative and regulatory requirements and manufacturer’s recommendations. Maintenance recommendations vary depending on the type, frequency, and location of use (i.e., hand-held devices are likely to receive more shocks and drops than the wall or desk mounted). Faulty cuffs, hoses, aneroid gages, and mercury manometers can all lead to erroneous blood pressure measurements, with significant effects on patient care. International Recommendations published by International Organization of Legal Metrology OIML R-16 for noninvasive mechanical sphygmomanometers and noninvasive automated sphygmomanometers which have been issued in 2002 as separate publications are presented. OIML International Recommendations are model regulations that establish the metrological characteristics required of certain measuring instruments and which specify methods and equipment for checking their conformity. The OIML Member States shall implement these Recommendations to the greatest possible extent.
Maximum permissible errors of the cuff pressure indication For any set of conditions within the ambient temperature range of 15°C–25°C and the relative humidity range of 20%–85%, both for increasing and for decreasing pressure, the maximum permissible error for the measurement of the cuff pressure at any point of the scale range shall be ± 0.4 kPa (± 3 mmHg) in case of verifying the first time and ± 0.5 kPa (± 4 mmHg) for sphygmomanometers in use. OIML R-16-1 also specifies requirements under storage conditions and under varying temperature conditions.
Technical requirements for the cuff and bladder. The cuff shall contain a bladder. For reusable cuffs the manufacturer shall indicate the method for cleaning in the accompanying documents. The optimum bladder size is one with dimensions such that its width is 40% of the limb circumference at the midpoint of the cuff application, and its length is at least 80%, preferably 100%, of the limb circumference at the midpoint of cuff application. Use of the wrong size can affect the accuracy of the measurement. Technical requirements for the pneumatic system Air leakage shall not exceed a pressure drop of 0.5 kPa/min (4 mmHg/min). Pressure reduction rate manually operated deflation valves shall be capable of adjustment to a deflation rate from 0.3 to 0.4 kPa/s (2–3 mmHg/s). Manually operated deflation valves shall be easily adjusted to these values.
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780128134672000754
Advanced Heat Transfer Topics in Complex Duct Flows
Bengt Sundén, in Advances in Heat Transfer, 2017
5.4 Impinging Jets
5.4.1 Setup
The experimental setup of the straight channel with a jet nozzle is illustrated in Fig. 12.
Fig. 12. Experimental setup for jet impingement study.
A separate air compressor system is used to provide the jet flow. The compressed and filtered air passes through a pressure regulator, and enters a big tank which maintains a stable pressure downstream. Air flow rate of the jet is regulated by a valve. A KROHNE rotameter is used to measure the volume flow rate of the jet flow, with a maximum permissible error of less than 2%. Then it flows into a 1030 mm long straight pipe (inner diameter 20 mm) made of stainless steel. The nozzle is flush with the top wall and the jet issues perpendicularly into the duct.
The cross-flow is introduced by the duct flow as shown in Fig. 12. This duct is the same as described previously. The ratio of nozzle-to-surface distance to jet diameter is 4.0. The bottom wall in the test section is regarded as the target plate surface. For the Cartesian coordinate system, the x-axis is along the streamwise direction, the y-axis is normal to the wall, the z-axis is along the spanwise direction, and the origin is placed at the position corresponding to the geometrical center of the jet nozzle on the bottom wall. In the test section, heat transfer measurement is performed on the bottom wall using a steady-state LC technique similar to what has been presented earlier. To modify the cross-flow, a VGP is mounted in the duct, upstream the jet nozzle exit on the top wall as indicated in Fig. 12.
Read full chapter
URL:
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0065271717300035
На основании Вашего запроса эти примеры могут содержать грубую лексику.
На основании Вашего запроса эти примеры могут содержать разговорную лексику.
максимально допустимой погрешности
not greater than the maximum permissible error for analog devices.
Therefore, the instrument does not meet the requirement of maximum permissible error.
For example, the reported error of indication of the measuring equipment would be compared to the maximum permissible error specified as a CMR.
Например, обнаруженная ошибка показания измерительного оборудования должна быть сравнена с максимальной допустимой ошибкой, указанной в МТП.
If the error is smaller than the maximum permissible error, then the equipment complies with that requirement, and may be confirmed for use.
Если ошибка меньше, чем максимальная допустимая ошибка, следовательно, оборудование отвечает такому требованию, и может быть подтверждено для использования.
The instrument now complies with the maximum permissible error requirement and it may be confirmed for use, assuming that evidence demonstrating compliance with the drift requirement has been obtained.
Теперь манометр соответствует требуемой максимально допустимой погрешности и может получить метрологическое подтверждение пригодности для использования в предположении, что он соответствует требованиям к дрейфу.
For instance, a manufacturer might specify a hypothetical CMM’s maximum permissible error of indication for size measurement, MPEE, according to ISO 10360-2 over a temperature band of 18-22ºC (64-72ºF) as
Например, производитель может указать теоретическую максимально допустимую ошибку показаний КИМ при измерении габаритов, МРЕЕ, в соответствии с ISO 10360-2, в температурном диапазоне 18-22ºC (64-72ºF) равной
Maximum Permissible Error: Extreme value of the measurement error, related to a known reference value, permitted by specifications or regulations for a given measurement, measuring instrument or measuring system.
3.6 максимально допустимая погрешность (maximum permissible error): Максимальное значение погрешности измерений по отношению к известному опорному значению величины, разрешенное процедурами спецификации или нормативными документами для данного метода (методики) измерений, средства измерений или измерительной системы.
Maximum Permissible Error: Extreme value of the measurement error, related to a known reference value, permitted by specifications or regulations for a given measurement, measuring instrument or measuring system.
Максимальная допустимая погрешность: Максимальное значение измерительной погрешности по отношению к известному стандартному значению, разрешенное спецификацией или нормативным документом.
Результатов: 8. Точных совпадений: 8. Затраченное время: 166 мс
Documents
Корпоративные решения
Спряжение
Синонимы
Корректор
Справка и о нас
Индекс слова: 1-300, 301-600, 601-900
Индекс выражения: 1-400, 401-800, 801-1200
Индекс фразы: 1-400, 401-800, 801-1200
However, experience has shown that in order to
guarantee that a measuring instrument does not exploit the Maximum Permissible Error(MPE) and systematically favour any of the parties involved in the transaction,
it is necessary to require also protection against unduly biased
errors
inside the controlled range of these instruments.
Вместе с тем опыт показал, что в
целях обеспечения гарантии того, что измерительный прибор не дает максимально допустимых погрешностей( МДП) и систематически удовлетворяет все стороны, участвующие в
этой цепочке, необходимо также требовать защиту от неоправданно высокой
погрешности
в пределах контролируемого этими приборами диапазона.
These requirements include specific provisions on allowable errors in order to ensure the accuracy and performance of the measuring instrument and to guarantee that the error of measurement under rated operated conditions and in the absence of a disturbance does not exceed the defined Maximum Permissible Error(MPE) value.
Эти требования включают конкретные положения о
допустимой
погрешности в целях обеспечения точности и работы измерительных приборов, а также для обеспечения гарантий того, что погрешность в измерениях при штатных условиях работы прибора и в отсутствие нарушений не превышает определенного значения максимально допустимой погрешности МДП.
The weighing instruments, their maximum permissible errors and usage shall comply with the Recommendations established
by the International Organisation for Legal Metrology OIML.
Оборудование для взвешивания, максимальная допустимая степень его погрешности и порядок его использования должны соответствовать рекомендациям
Международной организации по законодательной метрологии МОЗМ.
The weighing instruments, their maximum permissible errors and usage shall comply with the Recommendations established
by the International Organization of Legal Metrology OIML.
Оборудование для взвешивания, максимально допустимая степень его погрешности и порядок его использования должны соответствовать рекомендациям
Международной организации по законодательной метрологии МОЗМ.
universal with 1:10 divider and an active probe I22.746.036 should be ± 10%;
делителем 1: 10 и активным пробником И 22.746. 036 должны быть± 10%;
OIML Draft Recommendation»Automatic instruments for weighing road vehicles in motion», accuracy classes 0.5, 1, 2, or better,
Проект Рекомендации МОЗМ» Автоматическое оборудование для взвешивания автотранспортных средств в движении», классы точности, 5, 1, 2 или выше,
Proposal for a Commission Directive amending Directive 2004/22/EC of the European Parliament and
of the Council on measuring instruments in respect of exploitation of the maximum permissible errors, as regards the instrument-specific annexes MI-001 to MI-005.
Предложение в отношении Директивы Комиссии, вносящее изменение в Директиву 2004/ 22/ ЕС
Европейского парламента и Совета по измерительным приборам в части использования максимально допустимых погрешностей в отношении приложений MI- 001- MI- 005, касающихся характеристик приборов.
Proposal for a Commission Directive amending Directive 2004/22/EC of the European Parliament and
of the Council on measuring instruments in respect of exploitation of the maximum permissible errors, as regards the instrument-specific annexes MI-001 to MI-005.
Предложение в отношении Директивы Комиссии, вносящей изменения в Директиву 2004/ 22/ EC
Европейского парламента и Совета по измерительным приборам в части использования максимально допустимых погрешностей применительно к приложениям, касающимся приборов MI- 001- MI- 005.
On 11 November 2009, the final text was published in the Official Journal L 294, pp. 7-9, as Commission Directive 2009/137/EC of 10 November 2009 amending Directive 2004/22/EC of the European Parliament and
of the Council on measuring instruments in respect of exploitation of the maximum permissible errors, as regards the instrument-specific annexes MI-001 to MI-005.
Ноября 2009 года окончательный текст был опубликован в Официальном журнале, L 294, стр. 7- 9, в качестве Директивы Комиссии 2009/ 137/ EC от 10 ноября 2009 года, вносящей изменения в Директиву 2004/
22/ EC Европейского парламента и Совета по измерительным приборам в части использования максимально допустимых погрешностей применительно к приложениям, касающимся приборов MI- 001- MI- 005.
-0.05 + 1/ K m 1.6 1/m…1, 8 1/ m;
м при К= 1, 6 1/ м… 1, 8 1/ м;
The limit of additional
error
instrument kit K54 caused by the installation of a set based on the thickness of the ferromagnetic(2 ± 0,5)
дополнительной
погрешности
приборов комплекта К540, вызванной установкой комплекта К540 на ферромагнитном основании толщиной( 2±, 5)